Компания Geil представила новые модули памяти DDR3 EVO LEGGERA с высокими штатными частотами и максимальной производительностью. Модули EVO LEGGERA оснащены новейшими низкопрофильными теплораспределителями “Leggera” бирюзового цвета, изготовленными с применением технологии MTCD – Maximum Thermal Conduction & Dissipation для обеспечения оптимальной эффективности охлаждения в сочетании со стандартной высотой модулей, обеспечивающей совместимость с крупногабаритными СО других компонентов ПК.
Работая на частоте вплоть до 2800MHz, как и их аналоги в серии EVO, модули EVO LEGGERA разработаны для всех новейших наборов логики, включая платформу Intel Z77, чтобы обеспечивать максимальную совместимость и производительность. Вся серия получает гарантию качества GeIL благодаря применению стандарта DBT – Diehard Burn-in Technology.
EVO LEGGERA – новая вершина производительности с низкопрофильной системой охлаждения, воплощающая оптимальное сочетание эстетики и функциональности.
Спецификации могут быть изменены, для уточнения спецификаций, пожалуйста, посетите сайт www.geilmemory.com или свяжитесь с представителем компании GeIL.
Отличительные черты технологии DBT
Стресс-тестирование – процесс, часто применяемый в производстве электроники, направленный на повышение надежности производимого оборудования. Он заключается в эксплуатации продукта на повышенных частотах и напряжении, чтобы выявить возможность раннего выхода из строя и повысить общее качество продукта, что максимально соответствует ожиданиям пользователей.
В изготовлении оперативной памяти такое тестирование раньше применялось только в самых дорогих сегментах – при производстве серверных модулей, а также памяти, соответствующей военным спецификациям. Однако, с появлением GeIL Die-hard Burn-in Technology эта ситуация изменилась. Этот процесс протекает в камере собственной разработки GeIL – DBT-1. Она вмещает до 1000 модулей памяти благодаря применению специальных плат разработки GeIL, оснащенных интерфейсом для подключения памяти и контроллером. После установки модули памяти подвергаются динамическому тестированию с помощью специально разработанного программного обеспечения.
